用于高功率巴條半導體激光器老化測試,篩選早期失效產品
用于高功率巴條半導體激光器 正常壽命或者加速壽命測試, 評估產品壽命
系統保護全面,高安全性、高可靠性
實時監控老化或者壽命過程中 的各項參數,并將參數自動保存至數據庫
CW或QCW兩種工作模式可選
技術指標
應用領域
半導體激光器測試/老化/自動化
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